Приветствую Вас, Гость! Регистрация RSS

Современная компьютерная техника

Воскресенье, 16.12.2018
Главная » 2016 » Сентябрь » 20 » Метод DLTS
09:30
Метод DLTS
Метод DLTS часто используется для измерения профилей концентраций радиационных дефектов, вводимых при ионном легировании. Существовавшие до этого методы определения профилей концентрации радиационных дефектов разрушали кристалл травлением, тогда как метод DLTS позволяет определить профили концентрации дефектов, не разрушая кристалл. Примером интересных экспериментов, которые проводились с применением метода DLTS, является исследование влияния зарядового состояния на энергию миграции точечных дефектов. Было обнаружено, что вакансия в кремнии в пулевом зарядовом состоянии мигрирует с энергией активации 0,33 эВ, в положительно заряженном состоянии энергия миграции вакансии уменьшается до 0,18 эВ. Аналогично этому энергия миграции междоузельного алюминия под воздействием ионизации уменьшается от 1,2 эВ до 0,27 эВ (значения постоянно уточняются).
Вас интересует seo оптимизация чехия? Тогда найти информацию про SEO оптимизацию сайта в Чехии Вы можете с помощью специального сайта в интернете.
Просмотров: 251 | Добавил: piligrim | Рейтинг: 5.0/1
Всего комментариев: 0
avatar